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每個(gè)領(lǐng)域中的專家 來(lái)自蔡司的O-INSPECT復(fù)合式測(cè)量機(jī)使您能理想地測(cè)量到每一個(gè)特征——通過(guò)光學(xué)或接觸式。
可選探頭:
ZEISS DotScan ZEISS VAST XXT
可選軟件:
ZEISS CALYPSO ZEISS PiWeb 蔡司逆向工程 GEAR PRO